用户名: 密 码:
用户注册
首 页 IC测试验证 其他试验项目 产品设计 教育培训 增值服务 标准与评定 客服中心 关于我们 CECC文化 参观实验室
  集成电路测试验证
服务项目
成功案例
检测标准
报告模板
测试夹具
收费标准
学术资源
可测器件类型
仪器设备能力
相关测试知识
工程样品测试方案
专用测试设备研发
全权委托测试验证
首 页 >集成电路测试验证>成功案例查询
成功案例列表
    模糊 精确
  已收录 175 条信息 最新更新 0 条 更新日期:8/12/2010
GCIXP1200GA
HYB25DC512160CE-5
K4S561632H-UL75
K6T4008V1C-VF70
L6506
LM2675MX-5.0/NOPB
LM741/883
LT1372CS8
LT1791AISPBF
LVPXA272FC5520
M430F169
MACH220-15JC
MACH230-15JC
MAX3488ECSA
MC68060RC50
MC68332ACPV16
当前页次: 1 / 3    每页16 条   共: 48 条信息     首页   上一页   下一页   尾页      转到第
 
深圳市南山科技园科技中二路软件园4栋311   TEL: 0755-86169158   FAX: 0755-86169158-311
Copyright © 2009 中国电子元器件中心实验室 粤ICP 备09204021号
GICϢ Lily
GICϢ Lily
GICϢ Crystal(国内)
GICϢ Tony(国内)